AEC-Q104

　　AEC-Q104对多芯片模块的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。

　　需要注意的是，第三方难以独立完成AEC-Q104的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。

　　如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q104认证。供应商可以与客户协商，可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q104认证。

　　若模块中的所有器件（被动元器件、分立器件、芯片等）都以单独完成了AECQ认证，那么只需对模块进行AECQ104标准中H组测试项目，合格后即能申明模块整体通过AECQ104认证。

　　Tier 1:OEM车用模块/系统厂,车用电子组件的End-User.

　　Tier 2:使用/制造车用电子组件的厂商,车用电子组件的Supplier.

　　Tier 3:提供支持与服务给予电子行业,车用电子的外包商.

　　广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更**、更可靠的AEC-Q认证试验服务。

　　AECQ104认证测试周期：

　　3-4个月，提供全面的认证计划、测试、报告等服务。

　　AECQ100认证测试地点：

　　广电计量广州总部、广电计量上海试验室。

　　AEC-Q104认证测试业务咨询：

　　试验后元器件失效分析项目：

　　①形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线透视、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。

　　②成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱。

　　③电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。

　　④开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。

　　⑤缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。