X射线辐射得有效检测对于医疗诊断、无损检测、China安全和空间探索至关重要。闪烁体能将高能X射线辐射转换为传统光电探测器(如非晶硅光电二极管、光电倍增管等)可以检测到得低能紫外/可见光光子，是获得电子格式X射线图像得一种低成本和可靠得检测方法。近年来，包括具有有效辐射发光得CsPbBr3得胶体闪烁体在低成本射线照相和灵活得X射线成像应用中受到持续。卤化物钙钛矿是一种新兴得X射线成像闪烁材料。高质量得X射线成像通常要求高空间分辨率和长工作寿命，特别是对于不规则形状得目标对象。

来自昆明理工大学等单位得学者设计了一种钙钛矿型“聚合物-陶瓷”闪烁体，将卤化物钙钛矿纳米晶生长在高粘度(6×1012CP)得预固化聚合物结构中，以构建灵活、可刷新得X射线成像。感谢提出了一种成核抑制策略，以防止钙钛矿晶体在随后得沉淀过程中团聚和Ostwald熟化，从而使高质量得聚合物陶瓷闪烁体具有高透明度。这种基于闪烁体得探测器得探测极限为120nGy s-1，空间分辨率为12.5lp mm-1。有趣得是，由于聚合物基质提供得剥离原子得锚定效应，闪烁体薄膜在长时间(≥3h)和高剂量(8mGys-1)照射后可以重生。更重要得是，这一固有特性克服了钙钛矿型闪烁体使用寿命长得问题。感谢对聚合物陶瓷闪烁体得探索为开发柔性耐用得钙钛矿闪烁体铺平了道路，这种闪烁体可以以较低得运行成本生产出来。相关文章以“All-Inorganic Perovskite Polymer–Ceramics for Flexible and Refreshable X-Ray Imaging”标题发表在Advanced Functional Materials。更多精彩可以视频请抖音搜索‘材料科学网’。

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doi.org/10.1002/adfm.202107424

图1.a)所研究得CsPbBr3基聚合物陶瓷得示意图，b)红外透射光谱，c)XRD图谱，d)热退火前后得钙钛矿型薄膜得发射光谱，图1d中得插图是365 nm紫外光照射下得薄膜得相应照片。

图2.a)放置在80°C电热板上得CsPbBr3嵌入聚合物薄膜得照片，在紫外光照射下从0到120s记录下来。b)TEM图像显示了CsPbBr3 PNC在电子辐照下成核前得聚合物膜以及随后得成核和生长过程，电子束强度为2.7×102e-2s-1。在110s处捕获得TEM图像得内嵌是相应析出得CsPbBr3 PNC得HR-TEM图像。

图3.a)CsPbBr3聚合物陶瓷在相对湿度达到40%得环境下得辐射发光(RL)谱。插图分别是在高透明度得自然光和紫外光照射下得到得5×5cm2得胶片。b)辐射强度与剂量呈线性关系。c)记录CsPbBr3聚合物陶瓷在X射线辐照前后连续60个循环得辐射强度。d)感谢设计得间接X射线成像系统原理图。

图4.a)CsPbBr3聚合物陶瓷得柔韧性。采用柔性闪烁体得间接X射线成像方法：b)附着式；c)投影式。d)相应得间接X线成像方式得差异。e)弯曲目标得X射线图像，分别带有附加成像和投影成像，以及它们对应得目标得指定位置(A、B、C和D)得MTF。

图5.a)用于X射线成像长期应用得损伤修复钙钛矿薄膜示意图。b)研究得闪烁体在自然和紫外光照射下得损伤修复过程.c)X射线成像质量得论证取决于闪烁体得质量。

综上所述，感谢实现了适用于多种场合高分辨率X射线探测得柔性透明钙钛矿型聚合物陶瓷。获得高性能聚合物陶瓷得关键是聚合物PMMA得高粘度环境，这保证了CsPbBr3 PNC得均匀成核和结晶，没有团聚和Ostwald熟化。闪烁屏得图像空间分辨率可达12.5lp mm−1，探测下限为120nGys−1。此外，该闪烁屏得灵活性使其能够对不规则物体进行高分辨率成像。此外，感谢还注意到，在高剂量X射线辐射得影响下，损伤得CsPbBr3 PNC可以通过后退火处理完全恢复。因此，高性能聚合物陶瓷可以长期应用于高分辨率X射线成像。（文：SSC）

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